OFERTA

Urządzenia przenośne

X-Rite Ci62

Zaawansowany spektrofotometr sferyczny nowej generacji.

XRite_Ci62.jpg

X-Rite Ci62 to nowoczesny, przenośny, spektrofotometr sferyczny. Jest bezpośrednim następcą popularnego spektofotometru X-Rite SP62.

X-Rite Ci62 pozwala na szybki i precyzyjny pomiar barwy oraz połysku (skorelowany, 60°) z wielu rodzajów materiałów takich jak papier, tworzywa sztuczne, tynki, farby, pow. metalizowane, drewno lub tekstylia.


Solidna i jednocześnie ergonomiczna obudowa pozwala na stosowanie urządzenia zarówno w laboratorium kontroli jakości, na hali produkcyjnej oraz w terenie. Urządzenie automatycznie pamięta pomiary - wzorce i próbki. Pomiary te następnie mogą być przesłane do komputera, do systemów kontroli jakości lub recepturowania. Pomiarowi próbki towarzyszy czytelny komunikat na wyświetlaczu o tym czy dana próbka spełnia określone standardy.

Zrzut ekranu 2013-11-5 o 10.22.30.jpg

Wszystkie dane pomiarowe wyświetlane są na dużym i kolorowym wyświetlaczu LCD. Urządzenie posiada intuicyjny interfejs użytkownika, który może być indywidualnie konfigurowany, ułatwiając użytkownikowi dostęp do najbardziej potrzebnych funkcji pomiarowych.

X-Rite Ci62 jest kompatybilny m.in. z oprogramowaniem do kontroli jakości ColorQuality 6 i Color iQC oraz z systemami recepturowania farb InkFormulation 6 i Color iMatch. Komunikacja z komputerem odbywa się za pośrednicywem interfejscu USB lub bezprzewodowo, w oparciu o interfejs Bluetooth. X-Rite Ci62 współpracuje z globalnym systemem kontroli pomiarów X-Rite NetProfiler 3, który unifikuje pomiary różnych urządzeń, rozmieszczonych w różnych zakądkach świata. Spektrofotometr X-Rite Ci62 posiada zgodność pomiarową z serią starszych spektrofotometrów X-Rite SP6X.

 

 

XRite Ci6-f.jpgCharakterystyka:

  • źródło światła: gazowa lampa wolframowa,
  • typ iluminantu: D65, D50, A, C, F2, F7, F12,
  • Obserwator standardowy: 2° i 10°,
  • rodzaj optyki: sferyczna d/8° DRS,
  • powatarzalność pomiarów: 0,05 ∆E CIELAB,
  • zgodność pomiarowa pomiędzy urządzeniami: 0,2 ∆E CIELAB,
  • rozdzielczość spektralna: 10nm,
  • zakres pasma: 400nm-700nm,
  • optyka szczelina/pomiar: 4mm lub 8mm (alternatywnie),
  • standard pomiarowy: SPIN/SPEX/skorelowany połysk,
  • zgodność z NetProfiler: TAK,
  • interfejs USB / Bluetooth: TAK,
  • zielona płytka kalibracyjna BCRA: TAK,
  • zgodność pomiarowa z SP: TAK,
  • pamięć wzorców z tolerancjami: 1000,
  • pamięć próbek: 4000,
  • funkcje pomiarowe: [√/X], Lab, YI1925, WI Taube, ∆Ecmc, ∆lab, DeltaWI73, L*a*b*, Reflektancja, WI98, MI, ∆E00, ∆reflectancja, DeltaWI Berger, L*C*h°, notacja Munsell-a, WI73, MI6172, ∆E94, ∆YI98, ∆WI Hunter, XYZ, Gray Scale, WI Berger, Gloss, ∆XYZ, ∆YI73, ∆WI Stensby, Yxy, YI98, WI Hunter, ∆L*a*b*, ∆Yxy, ∆YI1925, ∆WI Taube, L*u*v*, YI73, WI Stensby, ∆L*C*h°, ∆L*u*v*, ∆WI98, uśrednianie,
  • ekran: LCD 3.2", kolorowy,
  • elementy zestawu: urządzenie pomiarowe X-Rite Ci62, wzornik kalibracyjny (czerń/biel/zielona płytka sprawdzająca), zasilacz, futerał, instrukcja, oprogramowanie konfiguracyjne.
  • Waga:1.1 Kg

 

Materiały do pobrania

Pliki PDF:

XRite_Ci6x_broszura

Cofnij Drukuj